微焦點(diǎn)X射線(xiàn)實(shí)時(shí)成像系統可以用于所有X、γ射線(xiàn)裝置的防護水平檢測，尤其適用于工業(yè)脈沖X光機及醫學(xué)攝影用X光機機房的泄露水平檢測，同時(shí)適用于脈沖反應堆的感興趣區域劑量率檢測。是放射衛生評價(jià)、環(huán)境影響評價(jià)、科學(xué)試驗監測、國土安全檢測、核應急場(chǎng)合的理想檢測儀。
微焦點(diǎn)X射線(xiàn)實(shí)時(shí)成像系統主要是檢測半導體接線(xiàn)處的焊接問(wèn)題，焊接容易出現虛焊、漏焊等缺陷，一旦形成這些缺陷，半導體就容易出現短路等問(wèn)題，為了半導體元件的正常使用，在焊接完成后需要進(jìn)行缺陷檢測。是目前市場(chǎng)上用于樣品內部檢測的設備，相比較于其他類(lèi)型的檢測設備。
微焦點(diǎn)X射線(xiàn)實(shí)時(shí)成像系統儀器的工作原理：
該劑量?jì)x采用一支蓋革-彌勒計數管來(lái)測定輻射，當每一次射線(xiàn)通過(guò)該GM管并引起電離時(shí)便使該GM管產(chǎn)生一次檢測電流脈沖，每個(gè)脈沖被電子管電路檢測并記錄為一個(gè)計數，該劑量?jì)x的顯示值為在你所選定的模式下的計數值。 由于放射性的隨機特性，故由劑量?jì)x所檢測到的計數值各分鐘有變化，當取一段平均時(shí)間內的讀數則較為正確，當所取的時(shí)間間隔越長(cháng)則平均數越準。
微焦點(diǎn)X射線(xiàn)實(shí)時(shí)成像系統能較直觀(guān)地顯示工件內部缺陷的大小和形狀，因而易于判定缺陷的性質(zhì)，射線(xiàn)底片可作為檢驗的原始記錄供多方研究并作長(cháng)期保存，對薄壁工件無(wú)損探傷靈敏度較高。對體積狀缺陷敏感，缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測量精確。對工件表面光潔度沒(méi)有嚴格要求，材料晶粒度對檢測結果影響不大，可以適用于各種材料內部缺陷檢測，所以在壓力容器的焊接質(zhì)量檢驗中得到廣泛應用。
但是，X射線(xiàn)檢測方法耗用的X射線(xiàn)膠片等器材費用較高，底片評定周期較長(cháng)，檢驗速度較慢，對厚壁工件檢測靈敏度低，只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷，能定性但不能定量，且不適合用于有空腔的結構，對角焊、T型接頭的檢驗敏感度低，不易發(fā)現間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內部分層性缺陷。
