計算機斷層掃描系統檢測主要用于檢測高密度和大尺寸物體，應用高能量X射線(xiàn)探，需有更高的系統分辨力等等。目前計算機斷層掃描系統技術(shù)的應用十分廣泛；在汽車(chē)等制造領(lǐng)域，可以用于零部件的缺陷檢測、質(zhì)量控制和實(shí)效分析；在電子行業(yè)，可以用于芯片封裝多余物檢測、封裝工藝改進(jìn)和逆向設計;在航空航天領(lǐng)域可用于產(chǎn)品質(zhì)量控制、裝配工藝分析；總之，凡是需要觀(guān)測樣品內部結構的場(chǎng)合都能用到計算機斷層掃描系統，是一種十分理想的無(wú)損檢測手段。
計算機斷層掃描系統常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。III代掃描具有更高的效率，但是容易由于校正方法不佳而導致環(huán)狀偽影（所以減弱或消除環(huán)狀偽影是體現CT系統制造商技術(shù)水平的主要內容之一）；II代掃描效率大約是III代掃描的1/10—1/5，但其對大回轉直徑工件檢測有益。此外CT系統通常會(huì )具備數字射線(xiàn)檢測成像（DR）功能。
計算機斷層掃描系統系統的核心性能指標包括：
1、空間分辨率：從CT圖像中能夠辨別最小結構細節的能力。
2、密度分辨率：從CT圖像中能夠分辨出最小密度差異的能力（通常跟特征區域大小結合在一起評定）。
空間分辨率與密度分辨率的關(guān)系。在輻射劑量一定的情況下，空間分辨率與密度分辨率是相互矛盾的兩個(gè)指標。提高空間分辨率會(huì )降低密度分辨率，反之亦然。
對于普通的計算機斷層掃描系統系統，其核心性能指標只有空間分辨率和密度分辨率；而對于一臺高精度測量計算機斷層掃描系統系統而言，除了上述兩個(gè)核心性能指標外，還有另外兩個(gè)核心性能指標：
2、幾何測量精度：在計算機斷層掃描系統圖像上測得某對象的幾何尺寸與該對象真實(shí)尺寸之間的絕對誤差。
2、密度測量精度：在計算機斷層掃描系統圖像上測得某對象的密度值與該對象真實(shí)密度值之間的相對誤差。
