三維云紋干涉儀：該設備用于測量試件在機械或熱載荷作用下的三維熱機械變形場(chǎng)（面內的U,V場(chǎng)和離面的W場(chǎng)）。在電子封裝領(lǐng)域，該設備是重要的失效分析手段。

臥式光彈系數測試儀(ANA6000P-H)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構件模型進(jìn)行實(shí)驗應力測試的儀器，簡(jiǎn)稱(chēng)光彈儀。應用它可以通過(guò)模型在實(shí)驗室內進(jìn)行大型建筑構件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試，并可以在模型上直接看到被測件的全部應力分布和應力集中情況。

立式光彈測試儀：光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構件模型進(jìn)行實(shí)驗應力測試的儀器，簡(jiǎn)稱(chēng)光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內部的應力雙折射/殘余應力，以圖像形式直觀(guān)觀(guān)察被測件的應力分布和應力集中情況。